冷热冲击试验箱的参数介绍

发布时间：2024-01-05
冷热冲击测试仪用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化； 测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。 冷热冲击试验箱主要技术参数： 高温槽温度范围：80℃～200℃ 低温槽温度范围□：A:-55～-10℃□B:-65～-10℃□D:-75～-10℃ 试验室冲击温度高温：60～150℃；低温：-40～-10℃ 稳定度：±0.5℃ 均匀度：±2.0℃ 升温时间：60℃～200℃约25min 降温时间：20℃～-55℃A:约60minB:约75minD:约95min 冲击恢复时间：5min 内尺寸（cm）H×W×D：35×40×35、40×50×40、50×50×40、50×60×50、60×70×60、75×80×75 保温材质：硬质发泡胶+玻璃棉 内外箱材质内箱：SUS304#镜面不锈钢外箱：SUS304#沙钢 满足标准 GB10589-89、GB10592-89、GB11158-89、GB/T5170.2-1996、GB2423.1-89、GB2423.2-89、GB2424.1-89、GJB150.5-86、QC/T17-92、IEA364-32、IEC68-2-14等。